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    产品概况 功能结构 规格参数 资料下载

    全自动四探针方块电阻测试系统

    产品概要

    四探针方块电阻测试系统是一种高精度的测量设备,具备可靠性好、操作简便等优点,对于微电子器件的设计、生产和质量控制具有重要意义。

    基本信息

    产品型号 SR8/SR12 工作环境 常高温,屏蔽
    电力需求 / 操控方式 全自动
    产品尺寸 可定制 设备重量 可定制

    应用方向

    半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)、新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)、导电薄膜(金属、ITO等)、硅相关薄膜(LTPS等)、扩散层测试、其他(*详情请与我们联系)

    技术特点

    技术特点

    ●SR8兼容6/8寸晶圆,SR12兼容8/12寸晶圆
    ●按照产线全自动量测性能设计,测试效率高
    ●单/双探头配置,适合不同应用场景
    ●可选配SECS/GEM厂务通讯协议
    ●符合ASTM and JIS 行业标准

    全自动四探针方块电阻测试系统

    型号

    SR8/SR12

    样品尺寸

    Circle>  150mm(6inch),200mm(8inch),300mm(12 inch)

    Square> 730x920mm or customer design

    测量范围

    [R] 1μ~3M Ω?cm

    [RS] 5m~10M Ω/sq

    Loadport

    /双 port

    探头

    /双探头

    行业标准

    ASTM and JIS

    通讯接口

    SECS/GEM

    功能配置

    Clean pad,E1/E2相机,温度卡盘,晶圆厚度测量等



    暂无数据

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