探针
规格/尺寸
ST 系列硬针
规格：ST
尺寸：硬针钨材质
特点：ST系列硬针是0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针尖直径，长度为1.5inch(38.1mm)的探针。这种探针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。 ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。该探针可以选择表面镀镍，如果选择镀镍则型号后面增加“NP”
开尔文探针
规格：测试频率150MHz，漏电优于10fA，电容<10fF
尺寸：常规
特点：适用于小信号测试。APT开尔文探针 APT开尔文探针适用于四线法测试，以减小线阻和接触电阻对测试的影响，保证小电阻的测试准确性。 另外，一些高频测试，比如150M左右，也可以采用这个。
大电流分流探针HC
规格：单根分流针可达5A直流能力，50A脉冲测试能力
尺寸：针数可定制
特点：适用于大电流场景，可以更好的接触样品
T-4 系列软针
规格：T-4
尺寸：软针
特点：T-4 系列软针较多的应用于点测集成电路的线路，电极，或者FIB(聚焦离子束) 制作的mini电极。 T-4系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接于镀锡的铜材质针杆上。其中T-4-10和T-4-22两款是客户反馈比较有优势的型号，因为其针须直径较细，具有良好的弯曲弹性，能够极大的减少对芯片电极的损害，在部分震动环境下面也能够保证和电极的良好接触。 T-4 软针不建议在敏感节点使用，因为会产生电容负载的问题，在此环境下，建议使用高阻抗Picoprobes系列
附件
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关于探针的具体详情规格资料，您可以下载我们的配件手册。
